壓敏電阻常見的失效狀態(tài)-行業(yè)新聞-廣東一林壓敏電阻廠家

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從壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況來看，可分為三種常見的失效狀態(tài)：劣化、炸裂和穿孔：

①劣化：實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降直至為零。

②炸裂：壓敏電阻器在抑制過電壓時會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象，十分明顯。

③穿孔：壓敏電阻器陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿，即為穿孔狀態(tài)。

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